Iec 60749-28：2017用于靜電放電靈敏度測(cè)試

這個(gè)國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)已發(fā)布iec 60749-28：2017本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體設(shè)備.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第28部分：靜電放電(Esd)靈敏度測(cè)試-充電設(shè)備模型(Cdm)-設(shè)備級(jí)別，現(xiàn)在可在iec上使用。

Iec 60749-28：2017說(shuō)明：

“iec 60749-28：2017(E)根據(jù)它們建立測(cè)試、評(píng)估和分類(lèi)設(shè)備和微電路的程序。易感性(靈敏度)因暴露于限定的場(chǎng)致荷電裝置模型(CDM)靜電放電(ESD)而損壞或退化。

　　所有封裝半導(dǎo)體器件、薄膜電路、聲表面波(SAW)器件、光電子器件、混合集成電路(HIC)和包含任何這些器件的多芯片模塊(MCMs)都將根據(jù)本文件進(jìn)行評(píng)估。為了執(zhí)行測(cè)試，設(shè)備組裝成一個(gè)包，類(lèi)似于終應(yīng)用程序中所期望的包。本清潔發(fā)展機(jī)制文件不適用于嵌裝排放模型測(cè)試人員。本文描述了場(chǎng)誘導(dǎo)(FI)方法.附件一介紹了另一種方法，即直接接觸(DC)法。
 

　　本文件的目的是建立一種測(cè)試方法，以復(fù)制CDM故障，并提供可靠、可重復(fù)的CDM ESD測(cè)試結(jié)果，無(wú)論設(shè)備類(lèi)型如何。可重復(fù)的數(shù)據(jù)將使清潔發(fā)展機(jī)制ESD敏感性水平的準(zhǔn)確分類(lèi)和比較成為可能。
 

Iec 60749-28：2017文件歷史：

　　2017年3月1日

　　半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 - 第28部分：靜電放電(ESD)靈敏度試驗(yàn) - 帶電器件模型(CDM) - 器件級(jí)

　　IEC 60749的這一部分根據(jù)設(shè)備和微電路對(duì)損壞或降級(jí)的敏感性(靈敏度)建立了測(cè)試，評(píng)估和分類(lèi)的程序。

　　Iec 60749-28：2017文檔引用于：

　　IEC 半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 - 第43部分：IC可靠性鑒定計(jì)劃指南

　　IEC于2017年 6月1日發(fā)布

　　IEC 60749的這一部分給出了半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)品(IC)可靠性鑒定計(jì)劃的指南。本文件不適用于軍事和太空相關(guān)......