低溫試驗(yàn)：主要用于評價在貯存、工作和拆裝操作期間，低溫條件下對裝備的安全性、完整性和性能的影響。

低溫試驗(yàn)分為三個程序：程序1貯存，程序2工作，程序3拆裝操作.低溫貯存試驗(yàn)若無特殊要求，可選取24小時，低溫工作至少溫度穩(wěn)定后保持2小時。

低溫試驗(yàn)技術(shù)和方法1.試驗(yàn)?zāi)康牡蜏卦囼?yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)和元器件的篩選試驗(yàn)。2.試驗(yàn)條件按照國標(biāo)GB2423.1-2008規(guī)定如下：（1）非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)Ab：溫度漸變。（2）散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)Ad:溫度漸變。試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度由溫度和持續(xù)時間確定。溫度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。

試驗(yàn)溫度的允許偏差均為±3℃。持續(xù)時間：2h；16h；72h；96h。

3.試驗(yàn)程序試驗(yàn)Ab：非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)，用以確定非散熱的電子電工產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品）低溫下存儲和使用的適應(yīng)性。將處于室溫的試驗(yàn)樣品，按正常位置放入試驗(yàn)箱內(nèi)，開動冷源，使試驗(yàn)箱溫度從室溫降低到規(guī)定試驗(yàn)溫度并使試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。箱內(nèi)溫度變化速率為不大于1℃/min（不超過5min時間的平均值）。試驗(yàn)Ad：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)，確定散熱電子電工產(chǎn)品（包括元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品）低溫條件下使用的適應(yīng)性。

4.有關(guān)技術(shù)和設(shè)備要求（1）有關(guān)技術(shù)。若試驗(yàn)的目的僅僅是檢查試驗(yàn)樣品在低溫時能否正常工作，則試驗(yàn)的時間只限于使試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定即可；若作為與低溫耐久性或可靠性相聯(lián)系的有關(guān)試驗(yàn)時，則其試驗(yàn)所需的持續(xù)時間按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

試驗(yàn)時要注意區(qū)分兩類試驗(yàn)樣品：無人工冷卻的試驗(yàn)樣品和有人工冷卻的試驗(yàn)樣品。無人工冷卻的試驗(yàn)樣品分為無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)和有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)，無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)，是模擬自由空氣條件影響的一種試驗(yàn)方法。有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)，有兩種方法。方法A適用于試驗(yàn)箱足夠大，不用強(qiáng)迫空氣循環(huán)也可滿足試驗(yàn)要求，但僅能借助空氣循環(huán)才能保持箱內(nèi)的環(huán)境溫度。方法B用于方法A不能應(yīng)用的場合，例如，用作試驗(yàn)的試驗(yàn)箱體積太小，當(dāng)無強(qiáng)迫空氣循環(huán)就不能符合試驗(yàn)要求的場合。有人工冷卻的試驗(yàn)樣品，一般可按無強(qiáng)迫空氣循環(huán)方法進(jìn)行試驗(yàn)。這三項(xiàng)低溫試驗(yàn)對于試驗(yàn)樣品的工作性能試驗(yàn)，必須按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對試驗(yàn)樣品給予通電或電氣負(fù)載，并檢查確定能否達(dá)到規(guī)定的功能。按要求施加規(guī)定的試驗(yàn)條件前，應(yīng)對樣品進(jìn)行外觀及電氣和機(jī)械性能的初始檢測，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定在試驗(yàn)期間或結(jié)束時加負(fù)載和進(jìn)行中間檢測，檢測時試驗(yàn)樣品不應(yīng)從試驗(yàn)箱中取出。

按照規(guī)定要求進(jìn)行恢復(fù)，后對樣品進(jìn)行外觀及電氣和機(jī)械性能的檢測。（2）試驗(yàn)設(shè)備要求。試驗(yàn)箱應(yīng)能夠在試驗(yàn)工作空間內(nèi)保持規(guī)定的溫度條件，可以采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗(yàn)箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗(yàn)溫度之差不應(yīng)超過8%（按開爾文溫度計(jì)），且試驗(yàn)樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元器件的直接輻射。