可靠性加速壽命試驗(yàn)加速模型及壽命分布模型，我們在做可靠性加速壽命試驗(yàn)時候經(jīng)常用到可靠性壽命試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)是采用高應(yīng)力水平下的壽命特征去推測正常應(yīng)力條件下的壽命特征，是要建立壽命特征和應(yīng)力水平之間的關(guān)系，這個關(guān)系就是加速模型。
加速模型主要是用來描述失效模式的可靠性特征量（平均壽命、特征壽命、失效率）與加速應(yīng)力水平之間的關(guān)系。
一、常用的加速壽命試驗(yàn)加速模型有：
阿倫尼斯模型（Arrhenius）、逆冪律模型、Peck模型、艾林模型
1、阿倫尼斯模型
在加速壽命試驗(yàn)中用溫度作為加速應(yīng)力是非常普遍的，因?yàn)楦邷啬苁巩a(chǎn)品的電子元器件、絕緣材料加快化學(xué)反映，造成產(chǎn)品提前失效。
阿倫尼斯模型是使用較為普遍的加速試驗(yàn)?zāi)Ｐ停卜Q為熱老化模型。
2、逆冪律模型
在加速壽命試驗(yàn)中用電應(yīng)力如電壓、電流、功率作為加速應(yīng)力也是非常常見的。
逆冪律模型溫度變化速率與循環(huán)次數(shù)滿足逆冪律模式：
3、溫濕度兩綜合的加速模型主要有：艾琳模型和Peck模型。
實(shí)際試驗(yàn)過程中，高溫老化用阿倫尼斯模型、溫度循環(huán)加速模型用W-E模型和逆冪律模型、溫度+濕度兩綜合應(yīng)力加速模型用Peck模型和艾林模型、機(jī)械應(yīng)力或電應(yīng)力采用逆冪律加速模型、也有采用溫度+濕度+振動三綜合應(yīng)力加速模型的。
二、產(chǎn)品壽命分布模型
壽命分布模型是系統(tǒng)壽命特征的數(shù)學(xué)表達(dá)方式，對于電子設(shè)備統(tǒng)計方法一般采用失效時間建模方法，產(chǎn)品主要有兩種狀態(tài)，故障狀態(tài)和工作狀態(tài)。其中指數(shù)分布、威布爾分布、對數(shù)正態(tài)分布是常見的連續(xù)型壽命分布模型，二項(xiàng)分布、泊松分布、超幾何分布是常見的離散型分布模型。