電源完整性檢測，電源完整性影響，電源完整性修改方案

主要是因為，對于低頻應用，開關電源的設計更多靠的是經(jīng)驗，或者功能級仿真來輔助即可，電源完整性分析好像幫不上大忙，而對于50M -100M以內(nèi)的中低頻應用，開關電源中電容的設計，經(jīng)驗法則在大多數(shù)情況下也是夠用的，甚至一些芯片公司提供的Excel表格型工具也能搞定這個頻段的問題，而對于100M以上的應用，基本就是IC的事情了，和板級沒太大關系了，電源完整性仿真，除非能做到芯片到芯片的解決方案，加上封裝以及芯片的模型，純粹做板級的仿真意義不大，真是這樣嗎？